DAGE X光檢查機產(chǎn)品概述：
Dage X光檢測系統(tǒng)專為印制電路板 (PCB) 和半導體行業(yè)設計，并且采用了符合人體工程學的設計，可提供高分辨率納米級焦距 X射線系統(tǒng)，不僅可用于實驗室故障分析，也可用于生產(chǎn)環(huán)境。

產(chǎn)品型號：

1.DAGE XD7500VR Jade FP X光檢查機

XD7500VR Jade FP配備開放式透射型 X 射線管，是一種用于PCBA 生產(chǎn)質量控制的經(jīng)濟效益型設備。

高分辨率 - 950nm (0.95um) 特征識別
最高電壓160KV，標靶功率: 3W
高倍放大 - 1400倍幾何放大倍率，4200倍系統(tǒng)放大倍率
最大檢測樣品尺寸：736 x 580 mm

Dage VR 開放式 X 射線管是 DAGE XD7500VR X 射線檢測系統(tǒng)的核心部件。該產(chǎn)品為偏向保留開放式管技術的客戶提供了入門級系統(tǒng)。它可實現(xiàn)：30 - 160 kV 下，950 nm 級特征識別，最高功率可達 3W

2.DAGE XD7500VR Jade Plus X光檢查機

Jade Plus采用開放式X射線管，鎢絲可更換，最高在3 W功率下可達1μm特征分辨率。

X射線燈管： 開放式透射管
特征分辨率：0.95 μm
靶功率：3 W
電壓：30 - 160 kV
分辨率：1.33 MP
檢測區(qū)：510 x 445 mm (20 x 17.5”)
放大倍率：高達7500倍

3.DAGE Quadra 5 X光檢查機 - 靈活的 X-射線具有檢測到 0.35um 缺陷的功能。

Quadra5 具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、半導體封裝和晶圓級檢測以及故障分析和成品質量控制。

Quadra 5 所使用的密封式透射管技術更優(yōu)于開管技術，能在不降低分辨率和放大倍率的前提下提供高功率。

系統(tǒng)規(guī)格

射線管類型：QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率：10瓦以內0.35微米，20瓦以內0.95微米
最大功率：10瓦（可選配20瓦）
電壓：30 - 160千伏
最大幾何放大倍率：2500倍
最大總放大倍數(shù)：45,000倍

4.DAGE Quadra 7 X光檢查機

Quadra 7 具有0.1 μm 特征分辨率，可實現(xiàn)超高清圖像，是理想的故障分析和生產(chǎn)質量控制X射線檢測設備。隨著組件和電路板的尺寸越來越小，Quadra 7 可幫助您滿足當前和未來的質量需求。

Quadra7 具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、半導體封裝和晶圓級檢測以及故障分析和成品質量控制。包括電子封裝和晶圓級制造、汽車、能源和航空航天電子產(chǎn)品檢測以及醫(yī)療設備和 LED 制造等在內的廣泛行業(yè)使用。

Quadra 7 所使用的密封式透射管技術更優(yōu)于開管技術，能在不降低分辨率和放大倍率的前提下提供高功率。

效果良好的圖像質量

Quadra 7 雙4K超高清顯示器可讓您享受以下便利：
0.1微米的亞微米特征分辨率
670萬像素的X射線圖像匹配高分辨率閃爍體
800萬像素的顯示器
像素間距為50微米的平板探測器
特征識別在0.3微米時功率達20瓦
對具有挑戰(zhàn)性的應用提供高對比度檢測
實時圖像處理

系統(tǒng)規(guī)格

射線管類型：QuadraNT 密封式透射管
特征分辨率：10瓦以內0.1微米，20瓦以內0.3微米
最大功率：20瓦
電壓：30 - 160千伏
最大幾何放大倍率：2500倍
最大總放大倍數(shù)：68,000倍
顯示器：雙，24寸，4K超高清畫質，分辨率為3840 x 2160

5.DAGE XD7800NT Ruby XL X光檢查機 - 大板應用解決方案

DAGE XD7800NT Ruby XL X光檢查機是用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統(tǒng)，檢測區(qū)域范圍可達 96 x 67 cm (37.9” x 26.4”) ，是大板應用的理想解決方案。
0.5 μm 特征識別可實現(xiàn)PCBA級質量控制、封裝級檢測和故障分析。

優(yōu)點

Nordson DAGE NT500 免維護、密封傳送型 X 射線管
經(jīng)驗證的 < 0.5 μm 特征識別 160 kV 管（10 W 靶功率）
始終保留次微米能力
Nordson DAGE 2 Mpixel @ 25fps XiDAT3 數(shù)字圖像增強儀，提供實時圖像增強功能
幾何放大 1,800 X，系統(tǒng) 7,800 X 以及總計 23,400 X 數(shù)字放大
最大檢測尺寸 1205 x 672 mm
70° 斜角視圖，而不會損失放大
兩個 24” TFT LCD 監(jiān)視器
AXiS - 主動式 X 射線圖像穩(wěn)定
對于自動執(zhí)行檢測任務，不要求具有編程技能

Dage X光檢查機測試儀設計滿足PCB和半導體工業(yè)的增長需求，用戶可以輕松獲取高質量、高放大倍數(shù)和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。